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Si中Nd离子热退火行为的深能级瞬态谱研究

刘磁辉 , 林碧霞 , 王晓平 , 刘宏图 , 傅竹西

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2003.05.016

本文采用高能离子注入技术将两种剂量的稀土元素钕(Nd)引入外延n-Si片中,并借助非相干光快速热退火(RTA)方法使注入层再结晶并电激活;利用深能级瞬态谱(DLTS)测量方法对Si中Nd离子的深能级行为进行了研究.结果发现:经几秒钟的RTA处理,Nd能在Si中被激活并形成深能级中心,测量到较宽的DLTS谱峰.Nd在n-Si中的深能级行为与Si衬底材料的浅能级杂质基本无关.在低于1285℃的RTA时,Nd形成的深能级中心均为施主型.深能级中心的位置随注入剂量和退火温度不同而有所变化;高温退火后,Nd在硅中有一个能级位置为Ec-(0.32±0.04)eV稳定的施主型深中心,对它的成因进行了讨论.

关键词: Nd离子注入 , n型Si , 深能级 , 热退火

含氧量对NiO_x薄膜光电特性的影响

傅竹西 , 林碧霞 , 韩宪泽 , 廖桂红

材料研究学报

采用直流溅射方法制备了厚度小于0.1μm的NiOx薄膜,研究薄膜的加热氧化及其光电特性,测量了它们的透射光谱和电阻率随薄膜中的氧含量及热处理温度的变化

关键词: NiOx薄膜 , null , null

硅基片上异质外延SiC的机理研究

朱俊杰 , 林碧霞 , 孙贤开 , 郑海务 , 姚然 , 傅竹西

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.04.017

本文利用低压高温MOCVD系统,成功地在Si(111)基片上外延出了具有高质量的SiC薄膜,并对其反应机理做了一些初步的研究.大部分观点认为,SiC/Si的异质外延,其最初的状态应该为Si衬底中Si的扩散.但是,本文通过在不同流量比的条件下,SiC薄膜在Si基片以及Al2O3基片上外延的比较,发现在SiC/Si的异质外延过程中起重大作用的并非Si衬底中Si的扩散,而是很大程度上作用于C向Si衬底的扩散.同时,还发现反应速率的快慢受SiH4流量所限制.当SiH4流量增加时,反应速率会明显加快,但是结晶质量会相对变差.

关键词: SiC 薄膜 , Si(111)衬底 , 低压MOCVD , 异质外延 , 扩散

硅衬底碳化对异质外延SiC薄膜结构的影响

苏剑峰 , 郑海务 , 林碧霞 , 朱俊杰 , 傅竹西

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2006.03.002

用LPMOCVD方法在P-Si(111)衬底上异质外延生长SiC,用碳化方法生长出具有单晶结构的3C-SiC薄膜,研究了开始碳化温度、丙烷流量和碳化时间对结晶质量的影响.结果表明,在较低的温度开始碳化不利于丙烷的分解,不能形成很好的过渡层;碳化时丙烷流量过大会造成碳污染,碳化时间过长使过渡层的结晶质量降低.最佳的碳化条件为:开始碳化温度1150℃,碳化时间和碳化时丙烷的流量分别为8 min和2 sccm.

关键词: 无机非金属材料 , LPMOCVD , 3C-SiC , p-Si(111)衬底

ZnO/SiC/Si异质结构的特性

段理 , 林碧霞 , 姚然 , 傅竹西

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2006.03.008

用MOCVD方法在p型单晶Si(100)基片上外延SiC层,再用直流溅射在SiC层上生长ZnO薄膜,制备出ZnO/SiC/Si异质结构,用XRD和AFM分析了ZnO/SiC/Si和ZnO/Si异质结构中表层ZnO的结构和形貌的差别,研究了这种异质结构的特性.结果表明,在Si(100)基片上外延生长出的是高取向、高结晶质量的SiC(100)层.这个SiC层缓冲层使在Si基片上外延生长出了高质量ZnO薄膜,因为ZnO与SiC的晶格失配比ZnO与Si的晶格失配更低.

关键词: 无机非金属材料 , ZnO薄膜 , SiC缓冲层 , 异质外延 , 结构特性

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