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纯镁和AZ91HP镁合金微弧氧化膜性能比较

张荣发 , 黄隆 , 胡长员 , 柯科 , 巢强花 , 王为

稀有金属材料与工程

在环保型电解液中,采用电压-时间曲线、等离子体发射光谱仪(ICP)、扫描电镜(SEM)等方法研究了纯镁和AZ91HP两种基体材料对氧化过程、氧化膜表面形貌及成分的影响.根据电压-时间曲线,在氧化时间分别为1 min和5 min时,AZ91HP镁合金的电流效率比纯镁低,可能是由AZ91HP中的合金元素铝氧化并进入氧化膜中导致裂缝增加,成为析氧中心所导致的.在AZ91HP镁合金上生成的氧化膜孔的均匀性没有纯镁好,并且最大孔的直径比在纯镁上的氧化膜大.EDS分析表明,随着氧化时间延长,氧化膜中Si和P含量增加;而在氧化时间相同的情况下,两种基体上形成的氧化膜成分没有明显区别.ICP方法没有检测到氧化溶液中含有Mg~(2+)和Al~(3+),表明这两种离子在溶液中的浓度很低.

关键词: 镁合金 , 微弧氧化 , 基体 , 性能

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