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X射线荧光痕量元素分析的测定限问题

梁国立 , 邓赛文 , 吴晓军 , 甘露

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2003.06.002

就有关X射线荧光低含量元素分析的检出限问题进行了多方面的探讨.从检出限的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算.提出了以定义检出限的相对标准偏差为基准,对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定,从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限.同时还讨论了仪器与X光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响;测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响;不同种类试样对检出限的影响;检出限与测定限等问题.

关键词: X射线荧光 , 检出限 , 相对标准偏差