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陈俊芳 , 吴先球 , 樊双利 , 王鑫 , 任兆杏
量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2005.01.020
利用电子回旋共振等离子体增强化学气相沉积技术在超高频大功率晶体管芯片表面沉积Si3N4钝化膜,实现了芯片的Si3N4薄膜钝化.对钝化前后的芯片测试表明,芯片经钝化后电特性有较好地改善,提高了反向击穿电压,降低了反向漏电流,提高了芯片的成品率.
关键词: 光电子学 , ECR-PECVD , 氮化硅钝化膜 , 芯片