武彩霞刘罡方海涛李峰史鹏飞
材料研究学报
采用化学沉淀法(在RuCl3溶液中滴加NaOH)制备非晶态水合氧化钌, 用去离子水对非晶态水合氧化钌沉淀充分洗涤, 获得了Na、Cl杂质含量不同、而非晶态结构、水含量和显微相貌都相同的两种氧化钌样品. X射线光电子能谱分析表明, 样品中的Na和Cl杂质分别以水合Na+、水合Cl-的形式存在. 去离子水充分洗涤5次的样品(W_5)与不充分洗涤1次的样品(W_1)相比, 前者的Na+、Cl-杂质含量低. 循环伏安测试表明, W_5的比电容和功率性能都优于W_1. Na+、Cl-杂质不仅降低了氧化钌的比电容, 也降低了氧化钌的功率性能. 在非晶态水合氧化钌的制备过程中杂质含量的控制对获得高超电容性能十分重要.文中还分析了Na+、Cl-杂质对电容性能不利影响的机理.
关键词:
无机非金属材料
,
material physics and chemistry
,
supercapacitor
,
X–ray photoelectron spectra
,
ruthenium oxide
