武蕴忠
金属学报
<正> 我所自制的Auger电子能谱仪的一次电子激发源是直热式电子枪发射的电子束。电子枪的热阴极是直径0.12mm,长15mm的发叉式钨丝,两端焊在1mm的Covar丝插座上。加热电流是直流2.0—2.5A。用光学高温计测量发叉尖端温度最高。仪器调试中发现灯丝使用寿命较短。图1(见图版45)是灯丝烧断后的形貌,断口出现在偏离发尖约0.7mm的一侧,另一侧有钨的堆积。断口和钨堆积区偏离发尖的距离不相等。图2
关键词:
武蕴忠
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孙承龙
金属学报
电迁移过程中试样内非平衡缺陷的积累使电阻增大,其电阻变化率为:d(ΔR/R_0)/dt=cmj~2ρ~(3/2)Z_i~*eD_0/λ~(1/2)kT exp(-Q/kT)和d(ΔR/R_0/dt)=c_1mj~2ρ~(3/2)Z_i~*eD_0(2(T-T_e)+α(T-T_e)~2)~(1/2)/λ~(1/2)kT exp(-Q/kT) 用此二式可精确确定金属薄膜的电迁移激活能。用第一式确定的Al-3.2％Cu合金薄膜的电迁移激活能Q=0.65±0.04eV;用第二式处理Hummel的实验结果,则纯Al薄膜的Q值与原作者一致。
关键词:
武蕴忠
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丁青
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徐梅芳
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王渭源
金属学报
用Ａｕｇｅｒ电子能谱研究铂薄膜中氧和碳杂质的行为．结果表明，氧和碳受它们在铂膜中扩散过程限制．在１０００℃上、下两个温区，氧具有不同的扩散激活能，分别等于０．９８和０．４４ｅＶ；５５０─１０００℃温度范围内，氧向膜外扩散，使铂膜净化；１０００─１２００℃温度范围内，氧向膜内扩散，使铂膜氧化．在所研究的整个温度范围内，碳的扩散激活能等于０．５２ｅｖ，其扩散行为和氧相同，且随着氧含量的增减而增减．
关键词:
Ａｕｇｅｒ电子能谱
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Pt film
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oxygen
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carbon
,
null
