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紫外脉冲激光淀积法制备Pb(Ta0.05Zr0.48Ti0.47)O3薄膜的铁电性质

朱敏 , 殷江 , 刘治国

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2000.04.011

用紫外脉冲激光淀积方法在Pt/TiO2/SiO2/Si(001)衬底上制备了La1-xSrxCoO3/Pb(Ta0.05Zr0.48Ti0.47)O3(PTZT)/La1-xSrxCoO3异质结构薄膜。发现底电极La0.25Sr0.75CoO3可以诱导PTZT薄膜沿(001)方向取向生长。在500kHz和5V的工作电压下铁电电容器La0.25Sr0.75CoO3/PTZT/La0.25Sr0.75CoO3经过5×1010次反转之后,仍保持其初始电极化的96%。此异质结构横截面的扫描电镜照片表明界面上没有明显的因化学反应导致的第二相存在。

关键词: 脉冲激光淀积 , 铁电薄膜 , 疲劳特性

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