王宇
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李炯
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张硕
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马静远
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汪丽华
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魏向军
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黄宇营
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姜政
中国材料进展
doi:10.7502/j.issn.1674-3962.2017.03.05
X射线吸收精细结构(XAFS)方法是随着同步辐射发展起来的独特技术,是研究材料局域原子结构和电子结构的一种重要方法.相比于X射线衍射,XAFS仅仅对于吸收原子周围局域结构敏感,样品可以是固体、液体甚至是气体.概述了XAFS的基本原理及几种常用的实验方法,结合上海光源的XAFS光束线站成果,介绍了近年来不同XAFS方法在催化、能源、纳米和半导体等材料科学热门研究领域的最新进展,展示了目前XAFS方法在材料科学研究中所发挥的重要作用.最后根据国内同步辐射光源和相关XAFS研究方法的进一步发展,展望了XAFS技术在材料科学研究中的应用前景.
关键词:
材料科学
,
同步辐射
,
XAFS
,
时间分辨的XAFS
,
原位XAFS
