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T6和T78时效工艺对Al-Mg-Si-Cu合金显微结构和性能的影响

李祥亮 , 陈江华 , 刘春辉 , 冯佳妮 , 王时豪

金属学报 doi:10.3724/SP.J.1037.2012.00509

借助显微硬度测试、电导率测试、浸泡腐蚀实验、SEM,TEM和元素面扫描,研究了T6和T78时效工艺对Al-0.75Mg-0.75Si-0.8Cu(质量分数,%)合金显微结构和性能的影响.结果表明,实验合金在T6峰值时效(180℃,8 h)时,硬度为128.3 HV,电导率为27.3×106 S/m....

关键词: 铝合金 , 析出相 , 晶界 , 晶间腐蚀 , 显微结构

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