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田岡忠美 , 邹本三
金属学报
<正> 一、前言 目前,电子显微镜作为研究材料性能的一个有力手段,正在开辟它独立的应用领域。这是因为电镜是能对原子排列、晶体微观结构、各种晶体缺陷进行观察的唯一手段。并且,还因为它能分析出包含缺陷的微区成分;有时,也能分析其状态。 但是为了得到这样高分辨率的图象,使用目前100kV(或200kV)商品电镜时,允许观察
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