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姜传海 , 程凡雄 , 吴建生
金属学报
基于X射线应力测量原理, 建立了一种双相材料相间内应力的测量与表征方法. 利用衍射谱线上两相的衍射峰位差, 有效地消除了仪器的系统误差. 测量了实 际材料SiCp/6061Al中的相间内应力, 证实该方法具有较高的测量精度.
关键词: 双相材料 , inter--phase stress , X--ray stress determination
利用二维X射线衍射线形分析方法，分析了CoSi2薄膜材料的二维衍射线形。结果表明，薄膜中不同方位的衍射线形存在明显差异，主要与材料中晶粒尺寸及显微畸变的空间分布有关，其中沿薄膜法线方向上的晶粒尺寸最大，同时该方向的显微畸变最小。
关键词: CoSi2 , null , null
金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2004.04.004
基于X射线应力测量原理,建立了一种双相材料相间内应力的测量与表征方法.利用衍射谱线上两相的衍射峰位差,有效地消除了仪器的系统误差.测量了实际材料SiCp/6061Al中的相间内应力,证实该方法具有较高的测量精度.
关键词: 双相材料 , 相间内应力 , X射线应力测量
金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2005.05.007
利用二维X射线衍射线形分析方法,分析了CoSi2薄膜材料的二维衍射线形.结果表明,薄膜中不同方位的衍射线形存在明显差异,主要与材料中晶粒尺寸及显微畸变的空间分布有关,其中沿薄膜法线方向上的晶粒尺寸最大,同时该方向的显微畸变最小.
关键词: CoSi2薄膜材料 , 二维X射线衍射 , 线形分析
