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温梯法生长的Ti:Al2O3晶体的光谱分析

章佶 , 孙真荣 , 王祖赓 , 司继良 , 王静雅 , 杭寅 , 徐军

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2005.04.020

本文研究了不同掺Ti3+浓度对温梯法生长的Ti:Al2O3晶体吸收光谱、荧光光谱和X射线衍射光谱的影响.根据吸收光谱提出了一个色心模型.对比了样品各处420nm荧光谱,发现掺Ti3+浓度越大,该处荧光强度越弱,同时解释了420nm处荧光峰的起源.对比了样品各处720nm处的荧光谱,发现掺Ti3+浓度越大,该处荧光强度越强.X射线衍射谱(XRD)表明,衍射峰强度随掺Ti3+浓度的增大而逐渐增强.

关键词: Ti3+:Al2O3 , 色心 , 光谱 , 温度梯度法

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