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悬空纳米间隔电极对的制备并应用于单分子电学性质测量

杨扬 , 田景华 , 罗仲梓 , 吴孙桃 , 田中群

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2008.10.071

将普通光刻技术和电化学技术相结合,在微芯片上制备得到了机械可控断裂结法(MCBJ)所需的悬空纳米间隔金属电极对,并分别用热氧化二氧化硅和聚酰亚胺(PI)作为牺牲层使得电极对悬空,明显提高了可控断裂的实验成功率,并延长了微芯片使用寿命.利用分子自组装和MCBJ方法成功构筑了金属/分子/金属结,并实施了对巯基苯胺(BDT)单分子的电学性质测量,得到了BDF的电导值和I-V特性曲线.

关键词: 分子电子学 , 机械可控裂结法 , 单分子电导 , 牺牲层 , 微加工

PECVD法生长氮化硅工艺的研究

吴清鑫 , 陈光红 , 于映 , 罗仲梓

功能材料

采用了等离子体增强化学气相沉积法(plasma-enhanced chemical vapor deposition,PECVD)在聚酰亚胺(polyimide,PI)牺牲层上生长氮化硅薄膜,讨论沉积温度、射频功率、反应气体流量比等工艺参数对氮化硅薄膜的生长速率、氮硅比、残余应力等性能的影响,得到适合制作接触式射频MEMS开关中悬梁的氮化硅薄膜的最佳工艺条件.

关键词: PECVD , 氮化硅 , 聚酰亚胺 , 残余应力 , 射频MEMS开关

AZ5214E反转光刻胶的性能研究及其在剥离工艺中的应用

陈光红 , 于映 , 罗仲梓 , 吴清鑫

功能材料

研究了AZ52ME反转光刻胶的性能并选择适当的工艺可制得利于剥离的倒台面,并将其应用于射频MEMS开关的制作中剥离厚2μm的金薄膜.用扫描电镜(SEM)测出胶的侧壁为倒台面.

关键词: AZ5214E , 反转:剥离

PECVD淀积SiO2的应用

吕文龙 , 罗仲梓 , 何熙 , 张春权

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2008.01.008

研究了PECVD腔内压力、淀积温度和淀积时间等工艺条件对SiO2薄膜的结构、淀积速率和抗腐蚀性等性能的影响.结果表明,利用剥离工艺,并采用AZ5214E光刻胶作为剥离掩模成功制作了约21μm厚的包裹在金属铝柱周围的SiO2隔热掩模.

关键词: PECVD , SiO2 , AZ5214E , 剥离

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