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JZC-1M/027-01继电器失效机理分析

孙静 , 王全 , 胡斌 , 胡会能

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2003.z1.057

通过对JZC-1M/027-01继电器进行失效分析,认为继电器失效原因是由于中簧片在焊接部位产生断裂,导致中簧片不能回弹,在继电器加电时中簧片与常开簧片接触,断电后不能复位,使中簧片与常开簧片为短路状态.断裂簧片脆性断裂的原因是簧片在焊接过程中曾经较长时间受到较高温度的作用,导致热影响区(断裂部位)晶粒长大,晶界变粗且弱化,在继电器工作过程中,由于该部位多次受到应力作用而产生脆性断裂.正常簧片在热影响区未发现类似现象.

关键词: 继电器 , 断裂

导电杆失效分析

孙静 , 王全 , 胡斌 , 胡会能

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2003.z1.055

通过对导电环的分析,确认导电杆开路失效的原因是导电环引出线在与导电环焊点处开裂所致.开裂的原因一是导电环内部灌注的环氧树脂在固化过程中产生一定内应力,二是环氧树脂与导电环的膨胀系数相差较大,在温循试验过程中(特别是低温时)又产生较大的热应力,三是环氧树脂在低温下材质变脆.在这些因素的共同作用下,环氧树脂在与导电环的接合面裂开,在裂开的同时在焊点处产生很大的应力而最终将焊点拉断.

关键词: 导电杆 , 焊接 , 断裂

扫描电镜电压衬度像方法在失效分析中的应用

王全 , 胡斌 , 孙静 , 胡会能

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2003.z1.104

阐述了利用扫描电子显微镜获取电压衬度像的机理,并对样品充电现象进行了解释.通过引用两例失效分析案例,描述了利用样品的充电现象确定元器件内部开路位置的方法.

关键词: 电压衬度像 , 充电现象 , 开路

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