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ICP-AES法测定工业硅中10种杂质元素

杨万彪 , 傅明 , 陈新焕 , 胡宇东 , 袁智能

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2003.01.004

研究了利用ICP发射光谱仪测定工业硅中Fe,Al,Ca,P,Ti,Cu,Zn,Mg,Mn,Ni等10种元素的方法,确定了各元素的检出限,回收率在94%～105%之间,RSD小于3.5%,该方法用于样品测定,结果满意.

关键词: ICP-AES , 工业硅 , 杂质元素测定