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张以增 , 戴蜀娟 , 邹鸿承 , 苗丕峰
金属学报
<正> 一、前言 应用透射电子显微镜(TEM)技术观察金属薄膜的断裂过程,最早的可能是Wilsdorf的金属Al薄膜的工作.以后,Forsyth和Wilson,Kuhlman-Wilsdorf等人分别对Al-4%Cu的合金,Cu单晶体薄膜中的裂纹扩展进行了TEM的直接观
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