蔡闰生
,
任华友
宇航材料工艺
相对于公式法,双标记法解决了焦距和焦点位移测量误差所带来的问题.但此方法在射线检测领域普及程度并不高,其中原因,首先是原理较复杂,针对性研究少,其次是测量精度没有被量化,可信度不高.本文从公式法入手,通过对原理公式的变化分析和线性化分析,明晰了双标记法缺陷深度定位原理,推导了缺陷深度定位公式,利用简化模型,对双标记法的定位精度做了进一步的分析与计算,最后针对具体被检测物,测试验证了双标记法的计算公式和测量精度,用理论和实践证明了方法和精度的可靠性.
关键词:
X射线
,
缺陷深度
,
定位精度
蔡闰生
,
金虎
,
任华友
,
袁生平
宇航材料工艺
区别于小直径管焊缝射线检测通常采用椭圆成像的方法,超小直径管焊缝检测经常会用到垂直透照法.本文结合超小直径管的具体情况,通过透照厚度比和成像位移分析,对椭圆成像和垂直透照两种透照技术的选用进行了论述.并针对垂直双壁单影透照法射线影像重叠的特点,对超小直径管反面余高(焊漏)的影像特征进行了重点分析,提出了反面余高尺寸测定的两种可行方法.此外通过对垂直透照法有效透照次数的计算验证,得出了简化透照法能够满足实际工程需要的结论.
关键词:
小直径管
,
X射线
,
照相技术
,
反面余高
蔡闰生
,
袁生平
,
任华友
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2014.04.018
为获得不同透照电压下不同标准材料的射线透照等效系数,以50 kV透照电压为例,以钛为标准材料,揭示了同时透照法和图像法两种等效系数的测试方法.通过对同时透照法步骤及存在问题的分析,引入了解决问题的阶梯扩展和厚度校正两种手段.在等效系数图像法的分析过程中,明确了曝光曲线种类和黑度选取的原则,阐述了曝光曲线与图像法的关系,结合数学手段运用,获得了等效系数与透照电压相关,但不随曝光量改变而变化的结论.
关键词:
钛
,
标准材料
,
等效系数
,
测试方法
