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聚焦离子束在预镀镍电池壳成型件缺陷分析中的应用

薛菲 , 刘俊亮

物理测试

首次应用聚焦离子束(Focused Ion Beam,简称FIB)技术对镀镍电池钢壳表面微小点缺陷进行准原位截面切割观察,并结合扫描电镜及X射线衍射方法进行对比分析.结果显示,作为一种专用的薄片制作技术,单束FIB技术还是一种重要的准原位表征技术,能获得成分、晶粒变形程度、晶体取向衬度信息,为揭示镀镍电池壳表面缺陷在成型过程中演变的组织特性提供有力的证据.

关键词: 预镀镍 , 电池壳 , 单束聚焦离子束 , 截面

电镀锡板表面条状缺陷成因分析

薛菲

物理测试

应用体视显微镜、扫描电镜及能谱仪对近期集中爆发的冷轧电镀锡板表面白色条状缺陷的宏、微观形貌特征和缺陷成分进行分析研究,并经现场调查及模拟试验,分析认为酸洗前热轧板表面被点状有机物保护,酸洗时无法去除该区域的氧化铁皮,经冷轧轧制后形成此缺陷。

关键词:

电镀锡板表面条状缺陷成因分析

季思凯 , 薛菲

物理测试

应用体视显微镜、扫描电镜及能谱仪对近期集中爆发的冷轧电镀锡板表面白色条状缺陷的宏、微观形貌特征和缺陷成分进行分析研究,并经现场调查及模拟试验,分析认为酸洗前热轧板表面被点状有机物保护,酸洗时无法去除该区域的氧化铁皮,经冷轧轧制后形成此缺陷.

关键词: 电镀锡板 , 条状缺陷 , 氧化铁皮

高分辨场发射俄歇电子探针研究纳米锗硅量子点结构的表面组分分布

薛菲 , 刘俊亮

表面技术 doi:10.3969/j.issn.1001-3660.2008.05.010

纳米结构单体组分分布的研究对基础研究及应用探索具有非常重要的意义.应用高分辨场发射俄歇电子能谱和扫描电子束对在550℃和640℃生长温度下分别沉积在硅单晶衬底上的纳米锗硅量子点结构的形貌和表面组分分布进行观察,结果表明:表层分布元素不是纯锗、硅或均匀单一的锗硅合金,而是不均匀分布的锗硅混合物.纳米结构内,元素呈不均匀分布,锗元素富集在中心部位.640℃生长温度下的相同形貌的纳米点结构显示不同的元素分布性质.组分分布的巨大差异是由不同温度下硅向锗中不均匀偏析所致.

关键词: 俄歇元素面分布扫描 , 纳米结构 , 量子点 , 元素分布

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