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表面损伤层对Hg1-xMnxTe晶片电学参数的影响

王泽温 , 介万奇 , 李培森 , 谷智 , 刘长友 , 李强 , 查钢强 , 汪晓芹

稀有金属材料与工程

采用范德堡法在77 K下对多个Hg1-xMnxTe晶片化学抛光前后的电学性能进行了Hall测量.结果发现:与化学抛光后所测值相比,抛光前所测得的电阻率和霍尔系数值相对较小,而霍尔迁移率和载流子浓度相对较大,其中电阻率和霍尔迁移率在化学抛光前后变化幅度分别高达25%和31%,而霍尔系数和载流子浓度的变化幅度只有2%左右.化学抛光前,晶片表面损伤层内存在大量位错,对载流子的迁移造成散射,使得损伤层中的霍尔迁移率降低,但化学抛光前所测得的霍尔迁移率反而比抛光后的大,增幅最小的也达到了21%.本研究在3层模型的基础上,通过理论分析和计算,对这一反常现象以及化学抛光前后其它电学参数的变化进行了解释.

关键词: Hg1-xMnxTe , 表面损伤层 , 电学参数 , 霍尔迁移率

坩埚加速旋转-垂直下降法晶体生长设备的研制

谷智 , 李国强 , 介万奇 , 郭平

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2003.04.013

根据CdZnTe等Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体晶体生长的基本原理和工艺要求,设计制造了坩埚加速旋转-垂直下降法(ACRT-VBM)晶体生长系统.本文介绍了该系统设计所考虑的基本问题和元器件的选择,给出了系统的基本结构.晶体生长炉的温度控制精度为±1℃,系统的速度均匀度为±0.0015mm/h.该系统的性能指标满足生长直径30mm的CdZnTe晶体的要求.

关键词: CdZnTe , 坩埚加速旋转-垂直下降法 , 晶体生长设备

Cr2+∶ZnSe中红外激光晶体生长及光谱性能

刘长友 , 介万奇 , 张滨滨 , 查钢强 , 王涛 , 谷智

人工晶体学报

采用物理气相输运法( PVT),以Cr2+∶ ZnSe多晶为原料,在源区温度约为1000℃、温差为6~7℃条件下生长2周,获得了体积约为0.7 cm3的Cr2+∶ZnSe晶体.紫外-可见-近红外透过光谱显示,Cr2+∶ZnSe样品在1770nm左右出现了强吸收;Cr2+浓度在1019 atoms/cm3数量级,与原料中Cr2+浓度基本一致,反映了较低温度PVT法生长有利于获得预期的Cr2+掺杂浓度.荧光测试结果表明,Cr2+∶ZnSe样品谱线对称性好,发射峰位约在2400 nm,线宽约600 nm;室温荧光寿命为5.52×10-6s.数据分析结果表明,Cr2+∶ZnSe样品的吸收截面和发射截面峰值分别为1.1×10-18cm2和2.3×10-18 cm2.

关键词: 硒化锌 , Cr2+掺杂 , 物理气相输运法

Cd0.9Mn0.1Te晶体生长及其缺陷分析

常永勤 , 谷智 , 郭喜平 , 介万奇

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2001.04.004

采用Bridgman法和ACRT-B法生长了两根Cd0.9Mn0.1Te晶锭(简称CMT-B和CMT-A).采用光学金相显微镜和扫描电镜研究了这两种方法生长的晶体中出现的各种缺陷,并分析了其形成机理.采用JEOL-733电子探针测定了两根晶锭中Mn的分布.对比CMT-B和CMT-A两根晶锭,发现ACRT所产生的对流可提高Cd0.9Mn0.1Te晶体的结晶质量.

关键词: Cd1-xMnxTe , Bridgman法 , ACRT-B法 , 微裂纹 , 位错

室温固相反应合成碱式碳酸锌

刘长友 , 介万奇 , 王涛 , 查钢强 , 谷智 , 孙晓燕

功能材料

以七水硫酸锌(ZnSO4.7H2O)和碳酸氢铵(NH4HCO3)为原料,以聚乙二醇-400(PEG-400)为模板,通过室温固相反应制备了碳酸锌(ZnCO3)和碱式碳酸锌(ZnCO3.3Zn(OH)2.H2O,basic zinc carbon-ate,BZC)。通过XRD测试及其半定量成分分析,研究了PEG-400剂量和NH4HCO3与ZnSO4.7H2O摩尔比x值对合成产物物相的影响。总结了PEG-400模板辅助合成ZnCO3和BZC的反应机制。结果表明,PEG-400包覆ZnSO4.7H2O颗粒形成模板,模板层的厚度影响固相反应的微观机制———薄层单向扩散与厚层互扩散,局部微环境的酸碱性决定着产物物相,酸性抑制ZnCO3水解,碱性促进ZnCO3水解生成BZC。由据此设计的较高x值(x=3.0)、较低PEG-400剂量(70μL)的合成工艺,制备了单相BZC粉体。

关键词: 碳酸锌 , 碱式碳酸锌 , 固相反应 , 合成

Hg1-xMnxTe晶片电学参数的测量及分析

王泽温 , 介万奇 , 李宇杰 , 谷智

功能材料

采用范德堡法分别在77K和室温下对多个Hg1-xMnxTe晶片的电学性能进行了测量,发现部分晶片在77K下的导电类型为p型,而在室温下却为n型.通过理论分析对此现象进行了解释.分析表明:Hg1-xMnxTe晶片中电子迁移率与空穴迁移率的比值较大和Hg1-xMnxTe的禁带较窄是造成晶片导电类型转变的主要原因.对所测其它电学参数的理论分析表明范德堡法不适合用于Hg1-xMnxTe晶片室温时的载流子浓度和迁移率的测量,但仍可用其对晶片室温时的电阻率和霍尔系数进行测量.

关键词: Hg1-xMnxTe , 范德堡法 , 导电类型 , 霍尔系数

垂直Bridgman法变速生长Hg1-xMnxTe晶体

谷智 , 李国强 , 张龙 , 介万奇

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.02.002

在固液界面迁移理论和SODCM模型(二次反扩散补偿法)的基础上,本文提出采用垂直Bridgman法变速生长Hg1-xMnxTe晶体,并从理论和实验两方面对该方法的可行性进行了验证.与传统垂直Bridgman法的对比实验结果表明,该方法可以在提高轴向组分均匀性的前提下增大抽拉速度,进而提高晶体生长速度.

关键词: HgMnTe , 垂直Bridgman法 , 变速生长 , 固液界面迁移 , 组分均匀性

N2H4·H2O水热体系ZnO微晶的结晶特性

刘长友 , 谷智 , 王涛 , 查钢强 , 介万奇

功能材料

研究了低浓度(0.01~0.20mol/L)N2H4.H2O条件下ZnO微晶的低温水热结晶特性。N2H4.H2O弱碱性和N2H5+吸附配位性影响ZnO微晶的形核和各晶面的生长速率。随着N2H4.H2O浓度的提高,ZnO微晶分别呈板条状、六角片状和六角棒束状。碱性分散剂和超声的分散作用影响主要在成核阶段;受分散剂弱碱性的影响,0.20mol/L N2H4.H2O显现出强的还原性,N2气泡模板生长机制使所制ZnO微晶呈六角管状晶须束。

关键词: 氧化锌 , 水热合成 , 结晶习性 , 水合肼

HgI2晶体最低生长温度的确定

许岗 , 谷智 , 坚增运 , 惠增哲 , 刘翠霞 , 张改

人工晶体学报

为确定HgI2晶体的最佳生长温度,根据邻位面生长的台阶动力学,推导出HgI2分子在(001)面扩散激活能ESD约为0.33 eV,进而采用物理气相沉积法的基本理论推算了不同升华温度T1下HgI2晶体生长的最低温度Tmin.结果表明,计算结果与实际晶体生长温度基本一致.该结果为HgI2单晶体、多晶薄膜、单晶薄膜沉积工艺的优化提供了依据.

关键词: 碘化汞 , 物理气相沉积 , 最低生长温度

绿光发光材料ZnTe的Raman光谱研究

谷智 , 李国强 , 介万奇

功能材料

研究了表面处理工艺对ZnTe的Raman光谱的影响,结果表明,ZnTe的LO(Γ)特征峰对表面处理工艺敏感,该特征峰的强度与半峰宽的比值(I/H)越大,晶体表面晶格完整性越高.对机械抛光的ZnTe晶片依次进行化学抛光、去除表面氧化物,I/H值分别出现不同程度的增加,表面晶格完整性逐渐提高.以514.5nm激光激发ZnTe,荧光峰掩盖了200~3000cm-1内Raman散射峰,拟合得到ZnTe的禁带宽度是2.255eV.

关键词: ZnTe , 表面处理 , Raman光谱 , 显微荧光光谱

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