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基于 FIB 的三维表征分析技术及应用进展

贾志宏 , 王雪丽 , 邢远 , 刘莹莹 , 刘庆

中国材料进展

聚焦离子束技术凭借其独特的微纳尺度制造能力和优势,已成为纳米科技工作者不可或缺的工具之一。随着新型FIB硬件设备的多功能化, FIB三维表征技术的不断完善,使 FIB三维表征技术在材料研究领域的应用更加广泛和深入。与其他三维表征技术相比, FIB 三维表征技术具有控制精度高、分析微观区域大、分辨率高等特点。 FIB 技术与 SIMS、 SEM、EDX、 EBSD等系统的结合,可对不同材料进行三维空间状态下的形貌、成分、取向等信息的分析。文章简要概述了3 D-SIMS、3D-Imaging/EDX、3D-EBSD 4种基于FIB的三维表征技术,具体包括 FIB 三维表征技术的成像-切割的原理及过程。综述了几种不同表征手段在各种材料中的应用和发展。最后指出FIB 三维表征技术在应用中的一些不足并对该技术发展方向进行了展望。

关键词: FIB三维表征技术 , 3D-SIMS , 3D-Imaging , 3D-EDX , 3D-EBSD

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