刘学建
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金承钰
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张俊计
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黄智勇
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黄莉萍
无机材料学报
以三氯硅烷(TCS)和氨气分别作为低压化学气相沉积(LPCVD)氮化硅薄膜(SiNx)的硅源和氮源,以高纯氮气为载气,在热壁型管式反应炉中,借助椭圆偏振仪和原子力显微镜,系统考察了工作总压力、反应温度、气体原料组成等工艺因素对SiNx
关键词:
LPCVD
,
silicon nitride thin films
,
growth rate
,
surface morphology
刘学建
,
金承钰
,
张俊计
,
黄智勇
,
黄莉萍
无机材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2004.02.020
以三氯硅烷(TCS)和氨气分别作为低压化学气相沉积(LPCVD)氮化硅薄膜(SiNx)的硅源和氮源,以高纯氮气为载气,在热壁型管式反应炉中,借助椭圆偏振仪和原子力显微镜,系统考察了工作总压力、反应温度、气体原料组成等工艺因素对SiNx薄膜沉积速率和表面形貌的影响.结果表明:随着工作压力的增大,SiN...
关键词:
LPCVD
,
氮化硅薄膜
,
沉积速率
,
表面形貌