欢迎登录材料期刊网
谷月峰 , 邓文 , 郭建亭 , 熊良钺 , 林栋梁
金属学报
本文用正电子湮没技术(PTA)研究了含不同zr量多晶Ni3Al的e+寿命谱。结果表明:在Ni3Al中加入Zr,一部分Zr原子进行原子替位,使晶格发生畸变,导致基体中正电子寿命(τ_1)增长;另一部分在晶界偏聚的Zr调整了晶界结构,使平均寿命(τ)下降。当Zr量为1.2at.-%时,缺陷态的寿命τ2显著增长,表明有自由体积较大的缺陷组态生成.
关键词: 正电子湮没 , null , null , null