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电子封装功率模块PbSnAg焊层热循环可靠性

张胜红 , 王国忠 , 程兆年

中国有色金属学报

对电子封装IGBT功率模块进行热循环实验, 考察 了92.5Pb5Sn2.5Ag钎料焊层的热循 环失效和裂纹扩展。 应用超声波显微镜对裂纹扩展过程进行检测, 得到了热循环失效的裂 纹 扩展数据。 采用统一型粘塑性Anand方程描述了92.5Pb5Sn2.5Ag的力学本构, 模拟了功率 模 块钎料焊层裂纹体在热循环条件下的应力应变。 基于对ΔJ积分的求解, 描述了PbSn Ag焊层热循环裂纹扩展速率。

关键词: 92.5Pb5Sn2.5Ag钎料 , 热循环 , 裂纹扩展 , 粘塑性 , ΔJ积分

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