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电极材料对碘化汞(α-HgI2)晶体Ⅰ-Ⅴ特性的影响

许岗 , 介万奇 , 王领航 , 孙晓燕

人工晶体学报

利用Aligent4155型CVIV测试仪分别对Au/HgI2、AuCl3(Au)/HgI2、C(石墨)/HgI2接触的,Ⅰ-Ⅴ特性进行了测定,对比研究了不同电极材料与α-HgI2晶体所形成的接触特性,并利用热电子发射理论对实验结果进行了分析.结果表明,AuCl3和C均能与HgI2形成良好的欧姆接触,其欧姆特性系数分别为1.0291和0.9380,接触电阻分别为3.0×108Ω和1.0×108Ω;而溅射Au与Hg2接触的欧姆特性较差,欧姆系数约为0.8341,接触电阻为3.5×109Ω.这说明AuCl3,在HgI2表面形成了重掺杂,产生显著的隧道电流,从而形成了较理想的欧姆接触.C(石墨)化学性能稳定,电极制备工艺没有影响晶体表面质量,因此C(石墨)/HgI2接触电阻最小,并具有良好的欧姆特性.而溅射Au过程中由于温度升高引起晶体表面HgI2分子的挥发,造成晶体表面质量下降,导致Au/HgI2接触的欧姆特性变差.

关键词: 碘化汞 , , 石墨 , 氯化金 , 电极 , Ⅰ-Ⅴ特性 , 接触电阻

新型MIP+-Al0.3Ga0.7As/P-n-n+-GaAs太阳电池的设计与Ⅰ-Ⅴ特性理论分析

涂洁磊 , 陈庭金 , 王履芳

工程热物理学报

为充分利用太阳光的短波部分,将AlxGa1-xAs设计为电池的又一个光伏工作层,并引入固定负电荷,建立界面感应势垒,形成MIp+-AlGaAs感应结,有效降低界面对光生电子的复合.以制作工艺简单的p+-AlGaAs/p-GaAs界面,将感应结与p/n-GaAs部分连接起来,构成新型高效率复合结构MIp+-Al0.3Ga0.7As/p-n-n+-GaAs太阳电池.其I-Ⅴ特性理论研究结果表明,选择合适的负电荷面密度数和Al0.3Ga0.7As层的掺杂浓度,即:建立合适高度的感应势垒,可显著降低界面复合速度近8个数量级.优化设计得到的整个电池的效率为31.5%,较传统的窗口层电池有明显提高.

关键词: MI-AlGaAs/GaAs太阳电池 , 固定负电荷 , 感应势垒 , Ⅰ-Ⅴ特性

多孔硅与聚乙烯咔唑复合光电性能研究

赵毅 , 杨德仁 , 周成瑶 , 阙端麟

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2003.04.010

用旋涂法实现了多孔硅与聚乙烯咔唑(PVK)的复合,研究了多孔硅/PVK复合体系的光学性能和电学性能.PL谱的测试发现,复合体系的PL同时具有多孔硅和PVK的峰.此外,在485nm的位置出现了一个新峰,讨论了这个峰的来源.Ⅰ-Ⅴ特性测试表明,多孔硅/PVK异质结与多孔硅相比,Ⅰ-Ⅴ曲线呈现更好的整流特性,讨论了其原因.

关键词: 多孔硅 , 发光 , Ⅰ-Ⅴ特性 , PVK

陶瓷片表面处理对p-PAn/n-BaTiO3复合材料性能的影响

曲远方 , 郑占申 , 马卫兵

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2000.z1.040

用电化学方法在n型BaTiO3陶瓷表面进行苯胺的聚合,制备了具有p-n异质结的p-PAn/n-BaTiO3复合材料.测定了电流-电压特性曲线和压敏非线性系数α值,发现此材料具有良好的整流特性用电子扫描显微镜观察分析了聚苯胺的表面形态和异质结的界面形态.讨论了陶瓷片表面的处理对异质结性能的影响.

关键词: p-PAn/n-BaTiO3 , 复合材料 , Ⅰ-Ⅴ特性 , 压敏非线性系数陶瓷表面的处理

五氧化二钽薄膜的Ⅰ-Ⅴ特性

王超 , 庄大明 , 张弓 , 吴敏生

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2003.03.019

采用直流脉冲反应磁控溅射方法制备了高介电常数五氧化二钽(Ta2O5)薄膜.利用Ta/Ta2O5/Ta的MIM电容结构分析了Ta2O5的电学性能,研究了上电极面积对Ⅰ-Ⅴ特性的影响、Ⅰ-Ⅴ曲线的对称性和零点偏移以及薄膜缺陷和基底粗糙度对MIM电学性能的影响.结果表明,随着上电极面积增大,电容的漏电流密度增大,击穿场强减小.氧化钽薄膜中缺陷的存在和粗糙度增大容易引起漏电流增大,击穿强度降低.当上电极直径为1 mm时,MIM电容的性能最佳:击穿强度为2.22MV/cm,漏电流密度低于1×10-8A/cm2.

关键词: 无机非金属材料 , 氧化钽薄膜 , 磁控溅射 , 金属-绝缘体-金属 , Ⅰ-Ⅴ特性

PZT铁电薄膜Sol-Gel技术制备和电性能研究

夏冬林 , 刘梅冬 , 赵修建 , 周学东

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2004.02.016

以乙酸铅(Pb(CH3COO)2·3H2O)、钛酸四丁酯(Ti(OC4H9)4)、硝酸锆(Zr(NO3)4·5H2O)替代锆醇盐为原料,通过在Pt/Ti/SiO2/Si基片与PZT薄膜之间引入PT种子层,采用改进的sol-gel工艺制备出无裂纹,致密性好,晶粒尺寸小且分布均匀的单一钙钛矿结构的Pb(Zr0.53Ti0.47)O3铁电薄膜.实验结果表明,具有PT种子层的PZT铁电薄膜电性能较好.经600℃热处理的具有PT种子层的PZT薄膜,在1kHz测试频率下,其剩余极化强度和矫顽场分别为20μC/cm2和59kV/cm,介电常数和介电损耗分别为385和0.030.

关键词: 锆钛酸铅(PZT)薄膜 , PT种子层 , sol-gel法 , 快速热处理 , 电滞回线 , Ⅰ-Ⅴ特性

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