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甄洪香 , 徐增芹 , 葛镧
冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2005.04.011
探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法.该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min.
关键词: 偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪 , 生铁 , 次级靶
