朱丽慧
,
邵光杰
,
刘一雄
,
上海金属
doi:10.3969/j.issn.1001-7208.2007.04.002
采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布.结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小.PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布.
关键词:
纳米钨粉
,
粒度分布
,
X射线小角散射
,
光子相关谱法
