雷丹
,
张其劭
,
李恩
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2006.02.017
为了准确检测介质片在3 mm频段的复介电特性,采用固定腔长法,研制了工作在101.80 GHz的测试介质片复介电常数准光学谐振腔测试系统.结果表明:腔体的品质因数达8×104,高斯波束的束腰半径为2.36 mm.复介电常数的测试范围ε′为2～8;tanδ为3×10-4～5×10-3,最可几误差为|△ε′/ε′|小于等于10%;|△tanδ | 小于等于20%tanδ+1×10-4.此方法能检测大面积介质片复介电常数的均匀性.
关键词:
准光学谐振腔
,
介电常数
,
损耗角正切
,
品质因数
,
谐振频率
于海涛
,
吴亮
,
李国辉
材料开发与应用
doi:10.3969/j.issn.1003-1545.2010.03.013
针对介质材料,介绍了在毫米波段和亚毫米波段能够准确测量其复介电常数的准光学谐振腔法.准光学谐振腔具有高Q值、使用简便、样品放置容易等许多优点,能够有效地完成介质材料电介质参数精密测量的任务.这种谐振腔为半球型并由一个平面镜和一个凹面铜镜组成,采用固定腔长法或固定频率法进行测量.另外,还介绍了准光学谐振腔的测试系统和最新的研究成果及改进方法,例如测量多层薄膜及在更高频段的测量方法.
关键词:
准光学谐振腔
,
复介电常数
,
固定腔长法
,
固定频率法
