王群勇
,
刘燕芳
,
白桦
,
吴文章
,
孙旭朋
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2010.03.004
通过分析锡晶须的研究历史,将锡晶须的研究归结为三个阶段:早期对锡晶须现象的研究、锡晶须生长机理的研究和减缓锡晶须生长方法的研究.比较了锡晶须长度及密度的测量方法.总结了目前抑制锡晶须生长的方法:在不同基底材料上采用不同厚度镀锡层;使用Ni、In等阻挡层;对镀层表面进行热处理和回流处理;避免使用纯锡镀层,镀层合金化;在镀层表面覆盖保形涂层.
关键词:
航用元器件
,
锡晶须
,
失效模式
,
生长机理
,
减缓
,
检测方法
