欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

  • 论文(1)
  • 图书()
  • 专利()
  • 新闻()

X射线吸收精细结构在材料科学中的应用

王宇 , 李炯 , 张硕 , 马静远 , 汪丽华 , 魏向军 , 黄宇营 , 姜政

中国材料进展 doi:10.7502/j.issn.1674-3962.2017.03.05

X射线吸收精细结构(XAFS)方法是随着同步辐射发展起来的独特技术,是研究材料局域原子结构和电子结构的一种重要方法.相比于X射线衍射,XAFS仅仅对于吸收原子周围局域结构敏感,样品可以是固体、液体甚至是气体.概述了XAFS的基本原理及几种常用的实验方法,结合上海光源的XAFS光束线站成果,介绍了近年来不同XAFS方法在催化、能源、纳米和半导体等材料科学热门研究领域的最新进展,展示了目前XAFS方法在材料科学研究中所发挥的重要作用.最后根据国内同步辐射光源和相关XAFS研究方法的进一步发展,展望了XAFS技术在材料科学研究中的应用前景.

关键词: 材料科学 , 同步辐射 , XAFS , 时间分辨的XAFS , 原位XAFS

出版年份

刊物分类

相关作者

相关热词