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ICP-AES法测定氧化钕中14个稀土杂质元素

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2004.04.008

采用等离子光谱仪测定质量分数99%～99.97%氧化钕中14个稀土杂质,选择了仪器的最佳工作条件.在选定条件下,14个稀土元素的检出限为0.14～9.8μg/g,加标回收率为86%～112%.在体系中加入一定量乙醇后,可改善稀土元素的检出限.方法简单、快速、准确,精密度好,已用于产品的检测.

关键词: 电感耦合等离子体(ICP) , 原子发射光谱 , 乙醇 , 氧化钕 , 稀土元素

ICP-AES在稀土元素分析中的抗干扰技术的应用及进展

吴波英 , 黄少文

稀土 doi:10.3969/j.issn.1004-0277.2005.05.005

综述了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)在稀土元素分析中的应用状况及发展趋势.主要介绍了分离技术与ICP光谱法的联用、ICP-AES在稀土元素分析中的抗干扰技术等.

关键词: 原子发射光谱 , 稀土元素 , 分离方法 , 抗干扰技术

气相色谱微波诱导等离子体原子发射光谱检测器对C,P,Si,Sn,B和I元素的响应特性的研究

师宇华 , 郑健 , 杨任飞 , 于爱民

色谱 doi:10.3321/j.issn:1000-8713.2003.06.023

以微波诱导等离子体作为气相色谱的原子发射光谱检测器,在优化实验参数的基础上,考察了该检测器对有机化合物中的C,P,Si,Sn,B和I元素的响应特性(检出限、线性范围和精密度).结果表明:该检测器在仪器成本、功率消耗和气体消耗等方面明显优于气相色谱-电感耦合等离子体-原子发射光谱检测器(GC-ICP-AED).对各元素测定的检出限优于GC-ICP-AED约1个数量级,尤其适合于B和I元素的测定.通过对不同种类有机化合物中碳元素相对响应值的测定,初步探讨了该等离子体光源对有机化合物的碎片原子化程度及其规律以及相应的响应机理.结果表明:以氩气为工作气体的surfatron器件作为等离子体光源时,有机化合物中碳元素的响应与化合物的结构有一定的关系.

关键词: 气相色谱 , 微波诱导等离子体 , 原子发射光谱 , 相对响应值

用于气相色谱的微波等离子体原子发射光谱检测器的发展

袁懋 , 师宇华 , 于爱民 , 张寒琦 , 金钦汉

色谱 doi:10.3321/j.issn:1000-8713.2007.03.004

分别介绍和评价了用于气相色谱的微波诱导等离子体、电容耦合微波等离子体和微波等离子体炬等3种微波等离子体原子发射光谱检测器的发展、应用以及局限性.对用于气相色谱的微波等离子体原子发射光谱检测器的发展作了展望.

关键词: 气相色谱 , 微波等离子体 , 原子发射光谱 , 检测器

基于原子发射光谱的TiC等离子体沉积诊断

周晗 , 周福增 , 伏开虎 , 黄杰 , 陈琳 , 廖斌 , 张旭

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.32.S1.79

对通过磁过滤阴极真空弧(FCVA)获得的高密度、高离化率的等离子体进行诊断。为研究C2H2气流量对磁过滤阴极弧产生的等离子体的影响，采用原子发射光谱(OES)法对FCVA沉积过程中产生的TiC等离子体进行诊断。利用Saha-Boltzmann方法对不同气流量下等离子体的参数进行计算，并对等离子体产生过程中的谱线强度随气流量变化的机制进行研究。结果表明，等离子体电离度较高，约为0.8左右且随气流量的变化不大；电子温度和电子密度分别在1×104～2×104 K和1023～1024 m?3范围内变化，且随着气流量的增加呈现出先增大后减小的变化趋势；Ti粒子谱线相对强度随气流量的变化不大，表明Ti粒子大部分在阴极弧斑附近被离化。

关键词: 原子发射光谱 , 磁过滤阴极弧 , 气体流速Saha-Boltzmann方法 , 等离子体诊断

时间分辨原子发射光谱诊断脉冲放电气体束等离子体

程晓伟 , 李煜 , 赵冬梅 , 马新文 , 杨杰

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.33.01.082

建成了一套脉冲放电气体束和原子发射光谱等离子体诊断实验装置，利用这套装置测量了不同放电条件下等离子体的时间分辨发射光谱，并采用玻尔兹曼作图法和H？谱线斯塔克展宽法研究了等离子体的原子温度、离子温度和自由电子密度等参数的演化。实验结果表明，脉冲放电的总电量对等离子体参数的演化有较大影响；脉冲放电气体束等离子体中的离子温度远高于原子温度，自由电子密度相对较低，等离子体处于非局域热平衡状态。

关键词: 脉冲放电气体束 , 原子发射光谱 , 等离子体诊断 , 非局域热平衡

火花放电原子发射光谱分析中优先放电成因探讨

沈克 , 张兆雄 , 张昌强 , 马广平 , 郭芳

冶金分析 doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009884

火花源原子发射光谱分析中存在优先放电现象，其形成机理还缺乏系统、全面的解释。经查阅相关资料得知优先放电与分析样品中组分的功函数以及表面粗糙度有关，通过设计一组实验对这些影响因素加以证实：制备两种功函数金属接触样品、光滑表面带凸起样品以及轧制状态和浇铸状态样品，观察这些样品的火花放电斑痕形貌特征及分布。实验证明低值功函数物相和试样表面凸起均可引起优先放电，低功函数的夹杂物所形成的尖端凸起较相同几何尺寸的钢基凸起更容易放电。根据实验结果并结合物理理论分析，提出了优先放电现象的初步解释与判据。另外实验还观察到若干火花放电中的特殊现象：一次火花脉冲过程中存在2个时间顺序的放电，表明一次放电可能会产生多个有时间先后的“单火花”；以及放电坑周围存在夹杂物蒸发或碎片残留的现象。

关键词: 火花放电 , 原子发射光谱 , 非金属夹杂物 , 功函数 , 表面凸起 , 优先放电

直流电弧直读光谱法测定钼粉其及化合物中铁、硅等17种杂质元素

李林元 , 彭宇 , 颜晓华 , 张蕾

硬质合金 doi:10.3969/j.issn.1003-7292.2016.04.007

利用原子发射光谱原理,运用载体分馏效应,在载体存在的条件下利用基体与杂质元素的蒸发特性,电极中实现杂质元素与基体分馏,用直流电弧阳极激发,仪器在激发过程同时进行信号采集和背景校正,完成所有光谱数据的采集.通过大量的试验,选择碳粉、碳酸钠、氧化镓、氟化钠、氧化锗、氧化锌按一定比例混合做载体,采用12A作为工作电流,根据时序分析、扫描峰等确定各元素积分时间、50 s总曝光时间、分析线波长,建立了直流电弧直读光谱仪同时测定钼粉及其化合物中铁、硅等17种杂质元素的分析方法,分析范围为0.5～350μg/g,加标回收率94％～107％,RSD小于17％,满足光谱分析要求.方法快速简便,适用于生产分析.

关键词: 原子发射光谱 , 直流电弧 , 直读光谱仪 , 同时测定 , 纯钼