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朱建慧 , 徐学珍 , 姚广涛 , 张韶光
人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2002.06.006
本文对导致Nd∶YAG激光晶体单程损耗的原因进行了分析,并建立了一套精确测量Nd∶YAG激光晶体单程损耗系数的测试系统.选用了与以往测量损耗系数方法不同的测试思路.通过该系统可直接测量激光工作波长单次通过Nd∶YAG 晶体时所引起的光损耗.文中对测试物理过程及数学模型的建立进行了阐述,并分析了端面反射率对测试结果的影响;研究了各种生长缺陷对激光工作波长所造成的损耗;讨论了测试不同通光面晶体损耗的方法;并实现了计算机全过程的自动数据采集及处理.
关键词: Nd∶YAG , 单程损耗 , 生长缺陷 , 双光路测量 , 端面反射率