孙伟民
,
张杨
,
张健中
,
相艳荣
,
赵磊
,
刘强
,
李颖娟
液晶与显示
doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2004.05.009
荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容,国际上尝试了多种方法来拟合这种理论上为单指数衰减信号的荧光衰减曲线.这些方法包括非线性函数标准拟合方法,即Levenburg-Marquardt方法,以及Prony方法、FFT方法,对数拟合法等等.为了克服在实际应用中发生的信号退化,需要在测量信号衰减寿命的...
关键词:
荧光
,
数据拟合
,
荧光寿命
,
对数
,
光学传感器
