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Cu层宽度对弯曲型三明治结构FeCuNbCrSiB/Cu/FeCuNbCrSiB多层膜应力阻抗效应的影响

陈吉安 , 张亚民 , 赵晓昱 , 周勇 , 周志敏 , 王明军 , 高孝裕

金属功能材料 doi:10.3969/j.issn.1005-8192.2005.03.003

基于MEMS微细加工工艺,利用磁控溅射方法在Si基片上制备了不同Cu层宽度弯曲型三明治结构的FeCuNbCrSiB/Cu/FeCuNbCrSiB多层膜,在频率1~40MHz下研究了Cu层宽度对多层膜的应力阻抗效应的影响.结果表明,弯曲型三明治结构多层膜的应力阻抗(SJ)效应随Cu层宽度的变化有明显的变化,在频率5MHz、基片自由端在y轴方向偏移的距离h为1500μm时,当Cu层宽度为0.4mm时,应力阻抗效应达-25%左右.

关键词: 应力阻抗 , FeCuNbCrSiB/Cu/FeCuNbCrSiB , 三明治薄膜 , 弯曲型结构 , 微细加工

Fe73.5Cu1Nb1.5Si13.5B9Mo1.5粉体/硅橡胶复合薄膜与Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9非晶薄膜层状结构的微应力阻抗效应研究

付远 , 朱正吼 , 李晓敏 , 周佳 , 赵辉

稀有金属材料与工程

选用最大粒度为40 μm的Fe73.5Cu1Nb1.5Si13.5B9Mo1.5粉体和硅橡胶混合制备的磁性薄膜作为压磁层.同时用Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9非晶薄膜作为压电层.测试频率范围从10 kHZ到1 MHz,并且压应力从0~0.14 MPa.比较了两组层合结构的微应力阻抗效应,其中包括:压磁/压电/压磁层合结构和压电/压磁/压电层合结构.结果证明两组层合结构都存在不同程度的磁电耦合效应.在压应力小于0.02MPa时,磁电耦合效应随压应力增大而增大,大于0.02 MPa时,磁电耦合效应达到极大值,同时它对微应力阻抗效应贡献不明显.因为两组层合结构具有各自不同的磁电耦合体系,压磁/压电/压磁层合结构以压磁效应影响阻抗为主而压电/压磁/压电层合结构以压电效应影响阻抗为主.

关键词: 应力阻抗 , 层状结构 , 压磁 , 压电 , 磁电耦合

曲折状FeSiB/Cu/FeSiB三层膜结构应力阻抗效应研究

陈吉安 , 茅昕辉 , 赵晓昱 , 丁文 , 曹莹 , 周勇

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2005.04.005

采用磁控溅射法在玻璃基底上制备了曲折状FeSiB/Cu/FeSiB三层膜结构,在1~40MHz范围内研究了FeSiB膜和Cu膜厚度对三层膜结构应力阻抗效应的影响.结果表明:高频下三层膜的应力阻抗效应随着其形变的增加近似线性增加,在自由端弯曲变形1mm、外加电场频率为25MHz时,应力阻抗效应达到-18.3%,在力敏传感器方面具有广阔的应用前景.

关键词: 应力阻抗 , FeSiB/Cu/FeSiB三层膜 , 磁控溅射 , 曲折状

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