王振廷
,
秦立富
表面技术
doi:10.3969/j.issn.1001-3660.2009.04.004
为了改善SiC/金属基之间的润湿性,采用化学镀技术,对SiC颗粒的表面进行了Ni-P化学修饰,并研究了影响SiC颗粒表面Ni-P化学修饰的因素.采用SEM、EDS和XRD对修饰后的SiC颗粒进行了形貌表征和物相分析,并对其修饰机理进行了分析,确定了SiC颗粒表面修饰的最佳工艺参数.结果表明:酸性和碱性修饰液相比,在相同的条件下,碱性修饰液对SiC颗粒的修饰效果较好,修饰后的SiC复合粒子形状规则,SiC颗粒表面形成连续的表面修饰膜.最终确定的最佳试验工艺参数为:pH=8.5～9.0,t=(50±2)℃.
关键词:
SiC颗粒
,
表面修饰
,
化学镀
,
形貌表征
李炯
,
林炜轩
,
程鹤登
,
陈榕杰
,
王江涌
表面技术
doi:10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2016.06.031
目的 研究具有不同高度分布函数的表面形貌粗糙度参数的变化.方法 高度分布函数包含了表面形貌的高度信息,通过对其逆运算可重新构建表面形貌.通过统计表征不同高度分布函数所构建的表面形貌的高度类粗糙度参数,并对比分析它们之间的变化关系,从而确定用于准确描述表面形貌的基本高度类参数.结果 源于同一种非高斯型的分布函数构建出的表面形貌,部分表征表面形貌的高度类粗糙度参数会保持一致;而源于不同的非高斯型高度分布函数构建出的表面形貌,其部分高度类粗糙度参数(Ra、Rq、Rsk、Rku)会随高度分布函数形状的变化而发生规律性变化,由此提出了高度类参数简化选择的方式.结论 可根据需求选取适当的粗糙度参数来表征表面形貌.对于满足同一高度分布函数的表面形貌,可以通过测量与峰值(谷值)相关的参数(如Rp、Rv等)或高度位置信息相关的参数(如Rtm、R3y等),来表征区分不同的表面形貌.对于满足不同高度分布函数的表面形貌,可以通过测量由分布函数确定的参数(Ra、Rq、Rsk、Rku)来进行初步的表面表征区分,而后再按照需求进行多参数的测量.
关键词:
高度分布函数
,
表面形貌
,
形貌表征
,
高度类粗糙度参数
,
粗糙度参数简化
,
随机分布
