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高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数

吴超 , 李恩 , 郭高凤 , 何凤梅

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2009.01.023

介绍了透波材料毫米波复介电常数自动测试方法,采用高Q腔一腔多模扫频(18~40 GHz)方法测试了微波低损耗圆盘状介质材料,谐振腔工作在TE10p模式,电场的极化方向平行于样品表面.为适应毫米波段材料测试的要求,在设计测试用宽频高Q值谐振腔时,改变以往工作中腔壁开槽位置以抑制TM1mn简并模,对测试用谐振腔的设计大大减小了测试误差.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果证明谐振腔有效Ё抑制了干扰模式,减小了测试误差.对测试结果进行了误差分析,系统的最可几测试误差为:|△εr/εr|=2%;|△tanδ|=10%tanδ+5×10-5.

关键词: 圆柱谐振腔 , 复介电常数 , 微波测试

重人式谐振腔法低损耗材料复介电常数测试系统

周杨 , 李恩 , 郭高凤 , 杨涛

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2011.04.015

利用重入式谐振腔针对微波低频段复介电常数测试问题进行了研究,建立了测试系统并对样品进行了测试,验证了该测试方法的可行性.相对于其他同频段的测试方法,其具有体积小、测试精度高、样品放置方便等优点.

关键词: 重入式谐振腔 , 复介电常数 , 微波测试

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