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李蓬 , 李玉清 , 张永刚
金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2000.02.022
从晶体表面宏观迹线配置,提出精确确定各种晶系晶体的取向、计算单晶3个相互垂直表面上基体和孪晶中滑移面和孪生面等迹线分布的方法;作为应用实例,精确确定了一种四方点阵结构的Ti-56Al(原子分数,%)单晶的宏观取向,计算和拟合出试样3个不严格垂直表面的指数及其上全部迹线分布.
关键词: 晶体表面 , 宏观迹线 , 分析方法 , Ti-56Al单晶
