田铁印
,
王红
,
吴国栋
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20122706.0847
针对高成像质量三线阵测绘相机杂光导致相机成像质量下降的问题,文章根据光学系统的设计结果,对相机的杂光系数进行分析与计算,提出合理的杂光抑制措施；利用ZEMAX软件和LightTools软件,分析了杂光对三线阵立体测绘相机成像的影响,通过模拟计算得到杂光系数小于5％的理论结果；实验检测了相机实际杂光系数,得到最大杂光系数小于6％的实测结果,模拟了杂光影响下的光学系统图像,证明了杂光抑制措施的有效性和杂光影响下成像分析的合理性.
关键词:
三线阵
,
测绘相机
,
模拟成像
,
杂光分析
