方铭
,
王现英
,
李青会
,
沈德芳
,
干福熹
功能材料与器件学报
doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2005.01.017
实验设计并组建了一套磁光极克尔磁滞回线测量装置,该装置可以通过改变照射到样品上 的激光功率来改变薄膜样品上被聚焦光斑照射的测试点的温度.同时通过计算模拟了激光照射 在 TbFeCo磁光薄膜上的温度分布情况,得到了薄膜的矫顽力随照射激光功率的变化关系,由此可 以确定薄膜的居里温度和补偿温度.为研究磁光薄膜样品在各种温度条件下,磁光性能的变化以 及多层磁光薄膜的磁耦合效应提供了有效的手段.
关键词:
磁光存储技术
,
聚焦光斑
,
极克尔磁滞回线
,
TbFeCo薄膜
