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X 射线荧光光谱无标定量测定稀土矿石中五氧化二磷

于丽丽 , 汤玉和 , 肖飞燕 , 胡洁

冶金分析 doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009848

利用粉末压片法制备样品，通过在Omnian无标定量分析软件中添加与待测组分相似样品来建立标签，可校正粉末样品可能存在的矿物效应、颗粒效应及制样引进的误差，从而实现X射线荧光光谱法（XRF ）对稀土矿物中P2 O5的准确测定。通过试验确定了压片制样的最佳制样条件为：样品粒度小于0.074 m m、压力...

关键词: X射线荧光光谱法(XRF ) , 无标定量 , 标签 , 五氧化二磷 , 稀土矿石