于丽丽
,
汤玉和
,
肖飞燕
,
胡洁
冶金分析
doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009848
利用粉末压片法制备样品，通过在Omnian无标定量分析软件中添加与待测组分相似样品来建立标签，可校正粉末样品可能存在的矿物效应、颗粒效应及制样引进的误差，从而实现X射线荧光光谱法（XRF ）对稀土矿物中P2 O5的准确测定。通过试验确定了压片制样的最佳制样条件为：样品粒度小于0.074 m m、压力为40 t、称样量为6.00 g 和保压时间为30 s。对含不同梯度含量P2 O5的稀土矿石进行正确度考察，发现以Omnian软件未添加标签而直接测定的P2 O5结果差值较大，而Omnian添加标签的分析结果与国家标准方法的分析结果基本吻合；精密度试验表明，P2 O5测定结果的相对标准偏差（RSD ，n＝8）小于3％。无需大量的标样建立校准曲线，能满足稀土矿石含磷量的精确分析要求。
关键词:
X射线荧光光谱法(XRF )
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无标定量
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标签
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五氧化二磷
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稀土矿石
