李海东
,
吕鹤
,
赖宇晴
高分子材料科学与工程
采用旋涂法制得聚苯乙烯(PS)薄膜样品,在四氢呋喃(THF)溶剂饱和气氛下,通过原位椭偏仪和光学显微镜同步联用的方法观测了2种不同相对分子质量的薄膜体系,当初始薄膜厚度不同时所发生的从溶胀到去润湿的动态全过程.结果表明,在溶剂气氛环境中聚苯乙烯薄膜的动力学变化过程可以从溶胀厚度的变化和去润湿发生的时...
关键词:
原位测量
,
溶剂饱和气氛
,
聚苯乙烯薄膜
,
椭偏仪
,
溶胀
,
去润湿
孙瑶
,
汪洪
航空材料学报
doi:10.11868/j.issn.1005-5053.2015.4.005
采用射频反应溅射制备SiNx薄膜,作为以Ag膜为功能层的D/M/D结构透明导电膜中的电介质膜,并研究射频功率、气压以及N2流量对SiNx薄膜光学常数的影响.结果表明,SiNx薄膜具有非晶态结构,光学常数在300～ 2500nm波长范围内符合正常色散关系.椭偏测试及Cauchy模型拟合结果表明,折射率...
关键词:
SiNx膜
,
Ag膜
,
折射率
,
椭偏仪
,
透光率
李天璘
,
朱彦旭
,
徐晨
,
高国
,
沈光地
功能材料
由于ITO具有复杂的微观结构和吸收机制,很难准确测量出它的光学常数.采用变入射角光度椭偏仪(VASE)建立了一套简单的拟合模型,成功拟合出ITO光学常数在可见光范围内随波长的变化关系.并在此基础上分析了电子束蒸发法蒸发速率对ITO薄膜光学常数的影响.根据Hall效应测量了ITO在不同蒸发速率下的载流...
关键词:
ITO
,
椭偏仪
,
电子束蒸发法
,
蒸发速率
许世鹏
,
李玉宏
,
陈维铅
,
林莉
,
李江
,
薛仰全
表面技术
doi:10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2016.02.019
目的：联合使用光谱型椭偏仪( SE)和分光光度计,精确测定超薄四面体非晶碳薄膜( ta-C)的光学常数。方法由于该薄膜的厚度对折射率、消光系数有很大的影响,仅采用椭偏参数拟合,难以准确得到该薄膜的光学常数,椭偏法测定的未知参数数量大于方程数,椭偏方程无唯一解。因此,加入透过率与椭偏参数同时进行拟合(...
关键词:
ta-C
,
薄膜
,
光学常数
,
椭偏仪
,
分光光度计
,
色散模型
