阳生红
,
张曰理
,
莫党
,
何捷
人工晶体学报
doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2006.02.006
本文利用1.7 MeV电子辐照MgAl2O4尖晶石后,通过吸收谱测量表明,被电子辐照的尖晶石可产生大量的F型色心缺陷, 而且电子的辐照剂量明显地影响尖晶石的光谱特性.随着电子辐照剂量增加, F型色心缺陷的浓度增大;椭偏光谱分析得到的光学常数谱随电子辐照剂量的变化而改变.我们对上述现象进行了合理的分析.
关键词:
MgAl2O4尖晶石
,
电子辐照
,
吸收谱
,
F型色心
,
椭偏光谱
张晋敏
,
郜小勇
,
李晶
,
周鹏
,
郑玉祥
,
王松有
,
张冬青
,
陈良尧
功能材料
采用放电等离子烧结(SPS)TbFeCo合金靶,分别在Si衬底和K9玻璃衬底上磁控溅射制备了磁光薄膜TbFeCo/Si和TbFeCo/K9;利用扫描型可变入射角全自动椭偏仪,室温下测量了复介电常数谱,测量结果表明两样品介电函数值有较大差异,说明衬底对薄膜的光学性质有重要影响.用磁光Kerr谱仪,在室温下分别测量了TbFeCo薄膜的极向Kerr回线和横向Kerr回线,发现所制备TbFeCo薄膜不具有垂直磁化性质,而呈现出面内磁化性质.
关键词:
放电等离子烧结(SPS)
,
磁光薄膜
,
椭偏光谱
,
磁光Kerr效应
莫党
,
李芳
,
陈第虎
,
郭扬铭
,
魏爱香
功能材料
用磁过滤真空离子溅射系统,改变加在单晶Si(100)衬底上的衬底偏压,制备不同sp3C键与sp2C键比例的碳薄膜样品.测量了2.0～5.0eV光子能量范围内各个碳薄膜样品的椭偏光谱.发现该谱与碳薄膜中的sp键比例有明显的关系.我们提出一种较简便的分析解谱方法,分析所测得的各个椭偏光谱,半定量地确定各碳薄膜样品的sp3C键与sp2C键比例.所得结果还与同类样品的拉曼光谱与吸收光谱测量结果相比较,结果基本上是一致的.研究结果表明椭偏光谱方法可以发展成一种较简便的、对样品无损伤的测定功能碳薄膜中的sp3C键成分的新方法.
关键词:
碳薄膜
,
椭偏光谱
,
化学键
王正
,
张曰理
,
郭扬铭
,
莫党
功能材料
用溶胶-凝胶法成功地制备出了退火温度分别为500、600、700、800、900℃的铌酸锶钡(SBN)薄膜;对制备出SBN薄膜分别进行了椭偏光谱测量研究,得到了不同退火SBN薄膜椭偏光谱参数曲线;并对测得的椭偏光谱进行了数值反演计算,得到了不同退火温度的SBN薄膜的光学常数谱.结果发现SBN薄膜的折射率和消光系数都随着退火温度的增高而增大.
关键词:
SBN薄膜
,
溶胶-凝胶法
,
椭偏光谱
魏权
,
曹全喜
,
姜海青
,
李智敏
,
崔彬
稀有金属材料与工程
采用溶胶-凝胶工艺制备TiO2薄膜.XRD结果表明所制备TiO2薄膜为锐钛矿结构.场发射SEM结果显示TiO2薄膜致密、无裂纹,晶粒尺寸约为60～100 nm,单层薄膜厚度约为50 nm,且膜厚随着热处理温度的升高而增大.采用椭圆偏振光谱仪测试了薄膜的椭偏参数ψ、△与波长λ的色散关系,选用Cauchy模型对TiO2薄膜的折射率、消光系数和厚度进行了拟合.结果表明当波长大于800 nm时,TiO2薄膜的折射率在2.09～2.20左右,消光系数约为0.026.并对不同热处理温度下制备的TiO2薄膜光学常数及厚度进行了分析讨论.
关键词:
TiO2薄膜
,
溶胶-凝胶工艺
,
椭偏光谱
李辉遒
,
唐新桂
,
刘毅
,
唐振方
,
张曰理
,
莫党
无机材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2000.02.017
用溶胶凝胶法在Si(100)衬底上制备了(Pb,Ca)TiO3 铁电薄膜样品, 测量了其在2.3～5.0eV能量范围的椭偏光谱, 并获得样品的膜厚和在该区间的光学常数谱. 实验发现Pb离子被Ca离子取代后, 折射率峰向低能方向移动; 同时随着Ca含量的增加, (Pb,Ca)TiO3 的吸收边向低能方向移动, 表明Ca离子取代Pb离子后, 禁带宽度 g减小. 还讨论了引起折射率峰移动和禁带宽度E g减小的原因.
关键词:
椭偏光谱
,
光学常数
,
铁电薄膜
