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一种半导体封装用键合金丝的研制

杨国祥 , 孔建稳 , 郭迎春 , 刀萍 , 吴永瑾 , 管伟明

贵金属 doi:10.3969/j.issn.1004-0676.2010.01.004

在开发了1种微合金配方的基础上,重点研究了真空熔炼连铸工艺,研制出1种适用于半导体分立器件和集成电路封装的高强度低弧键合金丝.结果表明:1)微合金元素得到有效添加,且分布均匀.2)铸锭组织为粗大柱状晶沿轴向分布.3)机械性能均匀稳定,Φ19 μm:断裂负荷≥5 cN,延伸率2%～6%;Φ15 μm:断裂负荷≥3 cN,延伸率2%～6%.4)与国内外相同规格键合金丝相比,具有更高的强度和更大的熔断电流.

关键词: 金属材料 , 键合金丝 , 连铸 , 熔断电流 , 热影响区