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本文对导致Nd∶YAG激光晶体单程损耗的原因进行了分析,并建立了一套精确测量Nd∶YAG激光晶体单程损耗系数的测试系统.选用了与以往测量损耗系数方法不同的测试思路.通过该系统可直接测量激光工作波长单次通过Nd∶YAG 晶体时所引起的光损耗.文中对测试物理过程及数学模型的建立进行了阐述,并分析了端面反射率对测试结果的影响;研究了各种生长缺陷对激光工作波长所造成的损耗;讨论了测试不同通光面晶体损耗的方法;并实现了计算机全过程的自动数据采集及处理.

关键词: Nd∶YAG , 单程损耗 , 生长缺陷 , 双光路测量 , 端面反射率

Yb∶YAG晶体的生长缺陷及位错走向

杨培志 , 邓佩珍 , 殷之文 , 田玉莲

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2000.04.021

用同步辐射透射白光形貌相和应力双折射法研究了沿<111>方向生长的Yb∶YAG晶体的生长缺陷、晶体中的位错起源和走向.Yb∶YAG晶体中的生长缺陷主要有:生长条纹、核心和位错等.晶体中的位错主要起源于籽晶、杂质粒子以及生长初期的晶种和固液界面处位错成核.位错的走向垂直于生长界面,符合能量最低原理.采用凸界面生长工艺可以有效的消除晶体中的位错.

关键词: Yb∶YAG晶体 , 生长缺陷 , 同步辐射形貌相 , 应力双折射 , 位错走向

锗酸铅晶体枝蔓晶生长的实时观察研究

洪勇 , 金蔚青 , 潘秀红 , 依田真一

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2006.02.012

利用实时观察方法对锗酸铅晶体生长枝蔓晶的生长过程进行了描述和分析.发现,枝蔓晶的产生与杂质相关,杂质作为一个成核中心,在其周围存在一个溶质扩散层,这个溶质扩散层的厚度随着晶体生长而增大.当该扩散层的厚度超过某个临界值时,出现枝蔓晶生长,溶质扩散层的临界厚度约为12μm.枝蔓晶主干的生长速度受分支出现以及主干转向的影响.

关键词: 氧化物晶体 , 生长缺陷 , 实时观察 , 枝蔓晶