张胜寒
,
贾利
,
檀玉
材料保护
Zn2+对304L不锈钢钝化膜半导体性能的影响目前鲜见报道.利用电容测量法研究了304L不锈钢在一系列ZnSO4浓度溶液中所形成的钝化膜的半导体性能,同时对影响钝化膜半导体性能的因素进行了讨论.考虑SO24-对不锈钢钝化膜的影响,在相同温度和浓度的条件下进行了Na2SO4中的浸泡对比试验.结果表明:在电位小于-0.4 V内,膜呈p型半导体特性,电位处于-0.4～0.3 V内,膜呈n型半导体特性;随着测试温度的升高及Zn2+浓度的增加,Mott-Sclaottky曲线的斜率有增大的趋势,膜内的杂质浓度减小.
关键词:
钝化膜
,
半导体性能
,
304L不锈钢
,
电容测量法
,
Zn2+
,
Mott-Schottky曲线
,
杂质浓度
李金波
,
郑茂盛
,
朱杰武
腐蚀学报（英文）
doi:10.3969/j.issn.1002-6495.2006.05.010
利用极化曲线、电容测量法和X射线光电子能谱(XPS)研究了304L不锈钢在0.5 mol/L NaHCO3溶液中所形成的钝化膜的半导体性能,同时对影响钝化膜半导体性能的因素进行了讨论.结果表明:在电位小于-0.4 V范围内,膜呈p型半导体特性;当电位处于-0.4 V至0.26 V范围内膜呈n型半导体特性.随着测试频率的降低及成膜电位的负移,Mott-Schottky曲线的斜率减小,表明膜内的杂质密度增加.氯离子的加入使得M-S直线的斜率减小,增加膜内的杂质密度,容易造成点蚀的发生.XPS测试结果表明钝化膜主要由内层的铬氧化物和外层的铁氧化物组成,这与以前的研究结果相一致.
关键词:
电容测量法
,
半导体性能
,
Mott-Schottky曲线
,
杂质密度
李金波
,
郑茂盛
,
朱杰武
腐蚀学报（英文）
利用极化曲线、电容测量法和X射线光电子能谱(XPS)研究了304L不锈钢在0.5 mol/L NaHCO3溶液中所形成的钝化膜的半导体性能，同时对影响钝化膜半导体性能的因素进行了讨论.结果表明：在电位小于-0.4 V范围内，膜呈p型半导体特性；当电位处于-0.4 V至0.26 V范围内膜呈n型半导体特性.随着测试频率的降低及成膜电位的负移，Mott-Schottky曲线的斜率减小，表明膜内的杂质密度增加。氯离子的加入使得MS直线的斜率减小，增加膜内的杂质密度，容易造成点蚀的发生.XPS测试结果表明钝化膜主要由内层的铬氧化物和外层的铁氧化物组成，这与以前的研究结果相一致.
关键词:
电容测量法
,
null
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null
