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直拉重掺硼硅单晶的研究进展

李春龙 , 沈益军 , 杨德仁 , 马向阳 , 余学功 , 阙端麟

稀有金属 doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2003.03.011

系统介绍了直拉重掺硼(B)硅单晶研究的最新进展.主要内容包括重掺B硅单晶的基本性质,利用重掺B籽晶进行无缩颈硅单晶生长技术,重掺B硅单晶的机械性能,重掺B硅单晶中的氧和氧沉淀,以及B的大量掺杂与大直径直拉硅单晶中空洞型(Void)原生缺陷的控制关系.在此基础上,探讨了当前直拉重掺B硅单晶生产和研究中存在的主要问题.

关键词: 直拉硅 , 重掺硼 , , 缩颈

快中子辐照直拉硅中非晶区的FTIR研究

杨帅 , 陈贵锋 , 王永

硅酸盐通报

利用Fourier变换红外光谱技术研究了高剂量快中子辐照直拉单晶硅中的辐照缺陷.研究表明,当中子剂量超过1018n·cm-2,在硅晶体会引入大量的非晶区和少量的非晶层(由连续的非晶区组成),分别在FTIR光谱中引入485和529.2 cm-1两个吸收带.退火实验表明,非晶区(485 cm-1)经150℃热处理后开始再结晶,有效的退火温度约为300℃;非晶层(529.2 cm-1)经300℃热处理后开始再结晶,有效的退火温度为500℃左右.

关键词: 直拉硅 , 中子辐照 , 非晶区 , 空位型缺陷

快中子辐照直拉硅中V2的FTIR研究

辛少波 , 梁小平 , 徐学文 , 王小会

硅酸盐通报 doi:10.3969/j.issn.1001-1625.2006.05.033

通过傅立叶红外光谱仪(FFIR)技术研究了由快中子辐照直拉硅中引入的辐照缺陷--双空位(V2)退火行为,主要研究了不同中子辐照剂量对双空位的影响.实验结果表明:随辐照剂量的增加双空位缺陷的浓度并不会无限地增加;间隙氧原子很容易与双空位缺陷结合形成比较稳定的空位-氧复合体,当退火温度超过200℃,双空位吸收峰消失.

关键词: 直拉硅 , 快中子辐照 , 退火 , 双空位

中子辐照剂量对直拉硅中VO退火行为的影响

杨帅 , 邓晓冉 , 徐建萍 , 陈贵锋 , 张辉

硅酸盐通报

本文通过红外吸收光谱技术研究了不同剂量快中子辐照直拉硅中空位氧缺陷(A中心)的退火行为.实验发现,经200℃热处理后样品中均会出现V2O (840 cm-1)和VO2 (919.6 cm-1)的红外吸收峰;当退火温度升高到400至450℃之间,在低剂量辐照样品(SL)的红外吸收光谱中会有较强的VO2 (889 cm-1)的吸收峰,而在高剂量辐照样品(SH)中则会有较强的V2O2(825 cm-1)和VO2(919.6 cm-1)的吸收峰.分析认为,在低剂量辐照样品中VO主要是通过与Oi结合形成稳定的VO2而消失;而在高剂量辐照条件下VO则是通过相互结合形成V2O2或与Oi结合形成VO2而消失.

关键词: 直拉硅 , 中子辐照 , 缺陷 , A中心

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