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纳米硅/铝氧化物杂化聚酰亚胺薄膜的制备与电性能研究

梁凤芝 , 陈磊 , 陈昊 , 范勇

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2011.01.001

采用水热法制备纳米氧化铝溶胶,溶胶-凝胶法制备氧化硅溶胶,并将两者掺杂到聚酰亚胺(PI)基体中.实验中固定无机物掺杂总量为24%,通过调整纳米硅/铝氧化物的摩尔比,制备出一系列的无机纳米杂化聚酰亚胺薄膜.利用扫描电子显微镜(SEM)、耐电晕测试装置、耐击穿测试装置对薄膜进行了表征与测试.结果表明:硅溶胶掺杂量较小时,纳米粒子能较好地分散在聚酰亚胺基体中;杂化薄膜的耐电晕时间比纯膜有较大幅度提高,硅/铝摩尔比为1:13时,耐电晕时间达到62.15 h;随着硅溶胶掺杂量的增加,杂化薄膜的击穿强度先减小后增大,但均比纯膜的低.

关键词: 聚酰亚胺 , 硅铝氧化物 , 无机杂化 , 电性能

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