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镁合金等离子体氧化时火花变化规律的研究

张荣发 , 何向明 , 单大勇 , 韩恩厚

航空材料学报 doi:10.3969/j.issn.1005-5053.2006.06.010

研究Magoxid工艺中镁合金等离子体氧化的过程,此过程分为三个阶段:普通阳极氧化、微弧氧化以及弧光氧化.随着氧化的进行,施加的电压不断升高,火花由微弧向弧光过渡.而微弧和弧光开始均主要集中于样品的边缘,然后均匀分布于整个样品表面.与微弧氧化阶段相比,弧光氧化阶段火花的数量明显减少,尺寸增大,并且持续的时间延长.与火花变化过程相对应,氧化膜表面孔数量减少,直径逐渐增大.氧化时间超过10min后,氧化膜表面呈现不明显的多孔结构.

关键词: 镁合金 , 腐蚀与防护 , 等离子体氧化 , 火花放电

液相等离子体电沉积表面处理技术

魏同波 , 田军

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2003.03.034

液相等离子体电沉积技术是一项新兴的表面处理技术,利用此技术可在多种金属及合金表面得到耐磨、耐蚀、耐热冲击、绝缘的优质膜.本文分别从等离子体氧化和等离子体渗透两个方面介绍了该技术的工艺机理、制备及影响因素、膜层性能,并展望了其应用前景.

关键词: 等离子体电沉积 , 等离子体氧化 , 等离子体渗透 , 火花放电 , 表面改性

高介电HfO2薄膜的制备及其结构和界面特性研究

何刚 , 方起 , 张立德

功能材料

报道了用低温等离子体直接氧化溅射金属铪膜的方法制备高介电HfO2薄膜.研究了退火温度及气氛对薄膜的结构和界面特性的影响.傅立叶变化红外测试结果表明:界面的主要成分为SiO2,氧气气氛下的高温退火将导致界面SiO2的不可控制的生长.高纯的N2退火导致了界面层的分解,引起Si-O键的振动峰位的轻微移动.

关键词: 等离子体氧化 , 氧化铪 , 高介电薄膜 , 制备 , 界面

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