邱玮丽
,
马晓华
,
杨清河
,
付延鲍
,
宗祥福
复合材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-3851.2004.04.011
用衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)技术研究了纳米SiO2粒子在紫外光固化复合涂层中的迁移现象,并对影响纳米SiO2粒子在涂层中分布梯度的因素进行了半定量分析.研究结果表明,纳米SiO2粒子在光固化过程中向涂层接触空气的表面迁移,在表面层富集.当纳米SiO2粒子含量较高、分子量较小、接枝率较高,或者在极性较大的基体树脂中时,迁移较快,分布梯度较大.
关键词:
衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)
,
纳米SiO2
,
紫外光固化复合涂层
