冯杰
,
王鹢
,
王先荣
,
姚日剑
,
柏树
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2010.06.019
利用石英晶体微量天平(QCM)测量技术,开展了针对空间微小尘埃累积质量流的原位测量方法研究,建立了石英晶体电极表面与尘埃粒子吸附的黏附力系数模型.结果表明,当电极表面与尘埃粒子的黏附力系数k＞mω02时,石英晶体电极表面累积尘埃粒子的质量与石英晶体振荡频率的关系符合Sauerbrey公式.在上述结论的基础上,采用在石英晶体电极表面涂敷黏性薄膜的方法实现了对微小尘埃粒子累积质量流的测量,对理论模型进行了验证.
关键词:
空间微小尘埃
,
累积质量流
,
石英晶体微量天平(QCM)
,
黏性薄膜
