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董幼青 , 张礼杰 , 邹超 , 黄少铭
材料科学与工程学报
本文利用纳米操纵仪结合扫描电子显微镜系统对单壁碳纳米管进行在线操纵,在此基础上,通过外接的半导体参数测量系统,可以测量单壁碳纳米管的电学性能.此外,通过纳米操纵手对碳纳米管施加外电场,还可以改变二氧化硅表面单壁碳纳米管的扫描电子显微镜成像.
关键词: 纳米操纵仪 , 扫描电子显微镜 , 单壁碳纳米管 , 原位测量 , 纳米操纵
